Instrumen Pengukuran Kapasitas Frekuensi Tes 1MHz

- Tidak ada. - Tidak ada.
Fitur

4.3 inci TFT LCD display

Interface operasi bahasa Cina dan Inggris yang dapat dipilih

Frekuensi uji maksimal: 1MHz

Kecepatan uji maksimal: 2,3 ms/waktu

Keakuratan tes dasar 0,07%

Faktor kerugian 0.0005

Fungsi monitor tingkat sinyal uji V, I

Pengukuran impedansi rendah, fungsi kompensasi tingkat sinyal

Komparator 11-bin internal

penyimpanan file internal dan penyimpanan file U disk eksternal

Data tes dapat langsung disimpan di U disk

Screenshot dapat disimpan di U disk

Kompatibel dengan perintah SCPI

RS232C, USB CDC, LAN, HANDLER, GPIB antarmuka

Antarmuka manipulator dan antarmuka scanner

Fungsi pemeriksaan kontak

Sumber sinyal sinkronisasi

Fungsi ofset dalam frekuensi tes 1MHz (±1, ±2%)

Pambuka Singkat

Seri TH2638 adalah kapasitansi meter presisi baru dengan frekuensi tes yang lebih tinggi. Dengan ukuran kecil dan penampilan portabel, itu nyaman untuk digunakan di rak. Dengan akurasi dasar ± 0,07%,Keakuratan kerugian 0.0005, frekuensi pengujian hingga 1MHz, layar LCD 4,3 inci, antarmuka operasi bahasa Cina-Inggris yang dapat dipilih, seri TH2638 mudah dioperasikan dan menyediakan tes cepat dan andal untuk produksi kapasitor keramik.Juga, dapat menguji semua jenis kapasitor dari nilai rendah hingga nilai tinggi. Hasil pengujian satu kapasitor beberapa kali cukup stabil dan akurat, bahkan untuk kapasitor nilai rendah.Penguji kompatibel dengan set perintah SCPI, dan dikonfigurasi dengan antarmuka manipulator dan scanner, antarmuka scanner dapat memindai kalibrasi kesalahan terbuka / pendek / beban di setiap saluran, maksimum 256 saluran.ada fungsi kompensasi tingkat sinyalKetika impedansi sangat kecil, resistensi internal dalam sumber sinyal dan kabel uji akan menyebabkan tegangan pada terminal DUT lebih rendah dari rentang yang ditetapkan,maka fungsi ini akan menyesuaikan tingkat ke rentang yang ditetapkan.Ada fungsi inspeksi tambahan untuk kontak yang gagal terutama untuk jalur produksi,yang dapat mendeteksi kontak gagal antara DUT dengan tester dan tidak perlu waktu tambahan untuk melakukan operasi ini. Ini menjaga fungsi sumber sinyal yang sama dengan tes nyata, di mana ada tes nyata, sinyal tes dapat dihasilkan dalam DUT, dan tidak ada sinyal tes ketika menghubungkan dan memutuskan DUT,Dengan demikian akan mengurangi kerusakan pada perlengkapan atau titik uji ketika ada arus besar dalam kontak yang gagal.Dalam pengujian kapasitor array, fungsi ini dapat menghilangkan kebisingan antara terminal yang berdekatan dan mengurangi perbedaan hasil tes.sehingga pengguna dapat mengatur 9 kotak berdasarkan hasil C-D / Q / R / Q untuk mengetahui lulus dan gagal produk dan kemudian dimasukkan ke dalam kotak yang berbeda.

- Tidak ada. - Tidak ada.